SMC電磁閥EVS7-8-FHG-D-3ZM0-Q示意圖

介紹：

利用不平衡力增加密封比壓法執(zhí)行機構(gòu)對閥

dg>20類閥為前一種情況，通常為流開型，

若密封效果認為不滿意時，改為流閉型，密

芯產(chǎn)生的密封壓力一定，不平衡力對閥芯產(chǎn)

為兩力相加，大大地增加了密封比壓，密封

效果可以比前者提高5一10倍以上。一般

生頂開趨勢時，閥芯的密封力為兩力相減，

反之，對閥芯產(chǎn)生壓閉趨勢，閥芯的密封力

封性能將成倍增加。尤其是兩位型的切斷調(diào)

節(jié)閥，一般均應按流閉型使用。

實物圖：

故障：

介質(zhì)的沖刷、電動調(diào)節(jié)閥老化引起的內(nèi)漏電

動調(diào)節(jié)閥調(diào)整后經(jīng)過一定時間的運行，由

動調(diào)節(jié)閥行程偏大、電動調(diào)節(jié)閥關(guān)不嚴的現(xiàn)

象，造成電動調(diào)節(jié)閥泄漏量變大，隨著時間

于閥門的氣蝕和介質(zhì)的沖刷、閥芯與閥座產(chǎn)

生磨損、內(nèi)部部件老化等原因，則會出現(xiàn)電

的推移，電動調(diào)節(jié)閥內(nèi)漏現(xiàn)象會越來越嚴重。

注意事項：

銼掉凸點：在研磨前，密封面溝槽兩沿突起

平面角度改變，無法配合密封。著色法檢驗

：用紅丹粉（機油和勻）涂在密封面上，用

可導致平面盤翹起，故應銼去，否則會導致

平板研磨以發(fā)現(xiàn)變形和掌握變形恢復進度的

方法，也常用于密封效果檢驗。

SMC電磁閥EVS7-8-FHG-D-3ZM0-Q示意圖